韩国先锋XRF-2020系列

X光镀层测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦，操作非常方便简单

韩国Micro Pioneer

XRF-2020镀层测厚仪

XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号

不同型号各种功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品

XRF2000测厚仪,提供金属镀层厚度的测量

同时可对电镀液进行分析

只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。

全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统

十字线自动调整。超大/开放式的样品台

可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。

可测量各类金属层、合金层厚度等。

X光镀层测厚仪可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

韩国微先锋：检测电镀镀层厚度:检测范围0.02-35um

X-RAY膜厚仪测试仪韩国XRF-2020测厚仪

X-RAY电镀测厚仪韩国先锋XRF-2020膜厚仪

H型：机箱容纳测量样品高120mm

L型：机箱容纳测量样品高30mm

长宽均为1500mm

仪器均为全自动程控台面，自动雷射对焦功能。