X-RAY镀层测厚仪

韩国Micro Pioneer XRF-2000镀层测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

可测单层,双层,多层,合金镀层

测量范围:0.03-35um

测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度

全自动台面,操作非常方便简单

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*

同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台

可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。

可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92

准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm

自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm

综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

X-RAY镀层测厚仪韩国先锋XRF-2020系列

韩国Micro Pioneer 微先锋测厚仪

型号：XRF-2020H,XRF-2020L

仪器功能：检测电子电镀层厚度

X射线镀层测厚仪功能及应用：

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层，不限底材。

检测范围0.03-35um

配置全自动台面，自动雷射对焦。

整机*