铜上镀银X射线无损测厚仪：测量镀银范围0.1-50um

韩国先锋XRF-2000膜厚测试仪
 

检测电镀层，镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...

可测单层,双层,多层,合金镀层,

测量范围:0.03-35um

测量精度:±5%,测量时间只需30秒内便可准确知道镀层厚度

全自动台面,自动雷射对焦, 操作非常方便简单




 

韩国MicroPioneer

XRF-2020测厚仪

检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架等电镀层厚度。
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等
可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

​XRF-2020镀层厚仪测试范围   

镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um

应用：检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

XRF-2020测厚仪韩国MicroPioneer

原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

型号：XRF-2000已升级为XRF-2020

XRF-2020测厚仪韩国MicroPioneer​精度

*层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±15%以内

铜上镀银X射线无损测厚仪：测量镀银范围0.1-50um