韩国XRF2000X射线镀层测厚仪

韩国XRF-2000镀层测厚仪

是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分

可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

XRF-2000 系列分为以下三种：  

1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约120mm以下。  

2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。  

3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。   
 

应用 : 
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度   
 

行业 :  
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。   
 

特色 : 
非破坏，非接触式检测分析，快速精準。 
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。 
相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告 。 

全系列*设计样品与光径自动对準系统。 
标準配备: 溶液分析软体 ，可以分析电镀液成份与含量。 
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。  
移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差 。  
*2D与3D或任意位置表面量测分析。 
雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 

单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。 
优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件优势。  
仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。 
测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 

韩国先锋XRF2000镀层测厚仪
 

检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度

主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等

韩国XRF2000镀层测厚仪

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铜上镀镍再镀铬等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
合金镀层:如铁上镀锡铜等，底材不限