韩国XRF2000X射线镀层测厚仪的详细资料:
韩国XRF2000X射线镀层测厚仪
韩国XRF-2000镀层测厚仪
是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分
可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。
XRF-2000 系列分为以下三种:
1. H-Type :密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约120mm以下。
2. L-Type : 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。
3. PCB-Type : 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测 。
应用 :
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度
行业 :
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。
特色 :
非破坏,非接触式检测分析,快速精準。
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。
全系列*设计样品与光径自动对準系统。
标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。
準直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。
*2D与3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦,配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。
单位选择: mils 、 uin 、 mm 、 um 。
优於美製仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件优势。
仪器正常使用保固期一年,强大的专业技术支援及良好的售后服务。
测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。
韩国先锋XRF2000镀层测厚仪
检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度
主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等
韩国XRF2000镀层测厚仪
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.03-35um
可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铜上镀镍再镀铬等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
合金镀层:如铁上镀锡铜等,底材不限
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