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产品名称:铜上镀镍X射线镀层测厚仪

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产品特点:铜上镀镍X射线镀层测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层
金镍电镀层X射线测厚仪

铜上镀镍X射线镀层测厚仪的详细资料:



韩国XRF-2000铜上镀镍X射线镀层测厚仪

测量电子电镀,五金电镀,化学镀层厚度

如镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀铬,镀锌镍合金等


韩国XRF-2000系列X-RAY膜厚仪

全自动台面

自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)


XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品


韩国先锋Micor Pionner XRF-2000镀层测厚仪,


提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统:彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

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铜上镀镍X射线镀层测厚仪


检测电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层,

X光测厚仪,X光镀层测厚仪,电镀层测厚仪,电镀测厚仪,镀层测厚仪,X光膜厚仪,镀层膜厚检测仪,电镀镀层测厚仪,XV镀层测厚仪,X-RAY镀层膜厚检测仪,镀层厚度测试仪,电镀测厚仪,镀层膜厚仪



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