韩国XRF-2000L镀层测厚仪规格

1、测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

2、可满足的测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍等

3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底料。

三、设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜层

拥有多种滤波器选择

各种样品单层至多层（5层），合金膜层与溶液均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效

1、主机箱：

输入电压：AC220V±10%，50/60Hz

沟通方法：RS-232C

温度控制：前置放大及机箱温度控制

对焦：激光自动对焦

样品对位：激光对位

安全装置：若测量中箱门打开，X射线会在0.5秒内自动关闭

表面泄露：少于1SV

2、多通道分析：

通道数量：1024ch

温度控制：自动前置放大温度控制

脉冲处理：微电脑高速控制处理器

3、X射线源：

  X射线管：油冷、超微细对焦

  高压：0-50Kv（程控）

  管电流：0-1mA（程控）

目标靶：W靶（可选Mo或Be）

4、准直器：

 固定种类大小：0.1mm-0.2mm-0.3mm-0.4mm-0.05*0.1mm 五个可选

韩国XRF-2000L镀层测厚仪规格型号如上图所示：