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产品名称：电镀层测厚仪韩国XRF-2000L膜厚仪
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产品特点：韩国XRF-2000X射线镀层测厚仪基本技术参数检测电子电镀,化学电镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...可测单层,双层,多层,合金镀层电镀层测厚仪韩国XRF-2000L膜厚仪
电镀层测厚仪韩国XRF-2000L膜厚仪的详细资料：
电镀层测厚仪韩国XRF-2000L膜厚仪
1、测量电镀层厚度范围为0.03微米～35微米。
2、可测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍及锌镍合金等。
3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量，不限底村。
工作方法：
通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
原理：
X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。
从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来
而此时是以荧光或光的形态被释放出来。
荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度
来进行定性和定量分析。
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