LED支架镀银测厚仪的详细资料:
LED支架铜上镀银测厚仪:检测范围0.1-50um
韩国先锋XRF-2000电镀层测厚仪
测量电子电镀,五金电镀,化学镀层厚度
可测量镀层膜厚:如镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀铬,镀锌镍合金等
韩国XRF-2000系列X-RAY膜厚仪
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.03-35um
可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀金,镀锌镍合金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金.铁是镀铜镀镍再镀银等)
合金镀层:如铁上镀锡铜,等
测量时间:10-30秒
精度控制:
*层:±5%以内,第二层:±8%以内, 第三层:±15%以内
XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号
不同型号各种功能一样
机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品
韩国先锋Micor Pionner XRF-2000镀层测厚仪,
提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U) 原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统:彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
韩国Micro Pioneer XRF-2020镀层测厚仪测试范围
镀金:0.03-6um
镀钯:0.03-6um
镀镍:0.5-30um
镀锡:0.3-50um
镀银:0.1-50um
镀铬:0.5-30um
镀铜:0.5-30um
镀锌:0.5-30um
镀锌镍合金:0.5-30um
韩国先锋X光测厚仪应用:
检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
可测量镀金,镀银.镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等
可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度
LED支架镀银测厚仪:检测范围0.1-50um
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