X-RAY膜厚仪镀层测厚仪

韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪

检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...

测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。

XRF-2000镀层测厚仪三款型号

不同型号各种功能相同

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000H型:测量样品高度不超过10cm  (长宽55cm)

XRF-2000L型:测量样品高度不超过3cm   （长宽55cm）

XRF-2000PCB型:测量样品高度不超3cm,PCB板

韩国Micro Pioneer XRF2020镀层测厚仪测试范围  

镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um

应用：检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度

设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线非接触非破坏快速测量膜厚层

各种样品单层至多层（5层），合金膜层均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制镭射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效

韩国XRF2000X光镀层测厚仪精度控制：

表层：±5%以内,第二层：±10%以内, 第三层：±15%以内

镀金镀镍镀银镀锌镀锡镀铬测厚仪