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产品名称：韩国XRF-2000测厚仪精度及检测范围
产品型号：
产品报价：
产品特点：韩国XRF-2000测厚仪精度及检测范围测量电子电镀,化学电镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...可测单层,双层,多层,合金镀层
韩国XRF-2000测厚仪精度及检测范围的详细资料：
韩国XRF-2000测厚仪精度及检测范围
Au 0.02-6um
Pd 0.03-4um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Ag 0.03-20um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi 0.05-20um
SnCu 0.05-20um
韩国XRF-2000X射线镀层测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
设备功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系统
使用X荧光射线非接触非破坏快速测量膜厚层
各种样品单层至多层（5层），合金膜层均可测量
定点自动定位分析
光径对准全自动
影像重叠功能
自动显示测量参数
彩色区别测量数据
多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制雷射对焦与自动定位系统
多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效
Micro XRF-2000 韩国先锋镀层测厚仪系列
测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等
兼容Microsoft Windows 操作系统
使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜层
拥有多种滤波器选择
各种样品单层至多层（5层），合金膜层与溶液均可测量
定点自动定位分析
光径对准全自动
影像重叠功能
自动显示测量参数
彩色区别测量数据
单一镀层测量 | Au/Ni , Zn/Fe , Cr/Al |
针对zui上层无法量测之元素 | Al/Fe |
zui上层的厚度极薄 | Au小于0.25um |
双层镀层测量 | Au/Ni/Cu , Ag/Ni/Cu |
多层测量(zui多5层) | Au/Ni/Cu/Epoxy |
SnXx合金 | SnPb/Cu , SnBi/Cu |
药水分析 | -- |
单层合金测量 | SnPb/Cu , ZnNi/Cu |
双层合金测量 | SnPb/Ni/Cu |
多层合金测量(zui多五层) | SnPb/Ni/Cu/Fe |
首层薄及第二层厚测量 |
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