韩国先锋X-RAY膜厚仪测量范围

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-20um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi 0.05-20um

SnCu 0.05-20um

韩国XRF-2000X射线镀层测厚仪

检测电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层,

设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线非接触非破坏快速测量膜厚层

各种样品单层至多层（5层），合金膜层均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

多重统计显示视窗与报告编辑应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制雷射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效

Micro XRF-2000 韩国先锋镀层测厚仪系列

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线可作非接触非破坏快速分析膜层

拥有多种滤波器选择

各种样品单层至多层（5层），合金膜层与溶液均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

韩国XRF2000X光镀层测厚仪精度控制：

 *层：±5%以内

 第二层：±8%以内

 第三层：±15%以内