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产品名称:铜上镀锡X射线无损镀层测厚仪

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产品特点:铜上镀锡X射线无损镀层测厚仪
韩国XRF-2000铜上镀银测厚仪
测量电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层

铜上镀锡X射线无损镀层测厚仪的详细资料:

铜上镀锡X射线无损镀层测厚仪

 

韩国XRF-2000铜上镀银测厚仪

 

 

1、测量电镀层厚度范围为0.03微米~35微米。

 

2、可测量镀种为:镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀、镀锡、镀镍及锌镍合金等。

 

3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量,不限底村。

 

韩国XRF-2000X光镀层测厚仪

 

韩国XRF-2000X光镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

 可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。

 

XRF-2000镀层测厚仪共三款型号

不同型号功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

 

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

 

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品


仪器功能

 

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)

测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选

镀层厚度测试范围:0.03-35um

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度

每层镀层都可分开显示各自厚度.

测量时间:10-30秒

 

 

 

韩国XRF2000X光镀层测厚仪精度控制

     

*层:±5%以内

 第二层:±8%以内

 第三层:±15%以内

 

铜上镀锡X射线无损镀层测厚仪

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