铜上镀锡X射线无损镀层测厚仪的详细资料:
铜上镀锡X射线无损镀层测厚仪
韩国XRF-2000铜上镀银测厚仪
1、测量电镀层厚度范围为0.03微米~35微米。
2、可测量镀种为:镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍及锌镍合金等。
3、可满足单镀层、双镀层、多镀层、合金镀层测量,不限底村。
韩国XRF-2000X光镀层测厚仪
韩国XRF-2000X光镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。
XRF-2000镀层测厚仪共三款型号
不同型号功能一样
机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品
仪器功能
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以内四种规格可选
镀层厚度测试范围:0.03-35um
可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
每层镀层都可分开显示各自厚度.
测量时间:10-30秒
韩国XRF2000X光镀层测厚仪精度控制:
*层:±5%以内
第二层:±8%以内
第三层:±15%以内
铜上镀锡X射线无损镀层测厚仪
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