产品展示
Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪的详细资料:
XRF-2000膜厚仪
原产地:韩国
功能及应用:测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。
XRF-2000膜厚仪精度
表层:±5%以内
第二层:±8%以内
第三层:±15%以内
XRF-2000膜厚仪测试范围
Au 0.03-4um
Ag 0.03-25um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi:0.05-20um
SnCu:0.05-20um
Micro Pioneer
XRF-2000膜厚仪配置
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度3cm 10cm 15cm 20cm 四种规格可选
测量样品长宽均为55cm
可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
Micro Pioneer XRF-2000膜厚仪
测量镀种为:镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
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