X-RAY膜厚仪测试范围：0.03-35um

X-RAY膜厚仪测试范围：韩国XRF-2020测厚仪 系列

Au 0.03-4um

Ag  0.03-25um

Ni 0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi:0.05-20um

SnCu:0.05-20um

韩国Micro Pioneer XRF-2020测厚仪

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

韩国Micro PioneerXRF-2020测厚仪​精度

*层：±5%以内

第二层：±8%以内

第三层：±15%以内

X-RAY膜厚仪：韩国Micro Pioneer XRF-2020测厚仪配置

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）

测量样品高度3cm  10cm  15cm  20cm 四种规格可选

测量样品长宽均为55cm  

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

每层镀层分开显示各自厚度.

测量时间：10－30秒

韩国Micro Pioneer XRF-2000测厚仪

测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等。

X-RAY膜厚仪

品牌：Micro Pioneer

原产地：韩国

型号XRF-2020

功能及应用：测量镀：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层，不限底材。