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产品名称:X-RAY膜厚仪测试范围

产品型号:

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产品特点:X-RAY膜厚仪测试范围:0.03-35um
测量电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层

X-RAY膜厚仪测试范围的详细资料:

 

X-RAY膜厚仪测试范围:0.03-35um

 

X-RAY膜厚仪测试范围:韩国XRF-2020测厚仪 系列

 

Au 0.03-4um

Ag  0.03-25um

 

Ni 0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

 

Sn 0.05-80um

 

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

 

ZnNi:0.05-20um

SnCu:0.05-20um

 

韩国Micro Pioneer XRF-2020测厚仪

 

测量镀种为:镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等

 

韩国Micro PioneerXRF-2020测厚仪​精度

 

*层:±5%以内

第二层:±8%以内

第三层:±15%以内

 

 

X-RAY膜厚仪:韩国Micro Pioneer XRF-2020测厚仪配置

 

全自动台面

自动雷射对焦

多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)

测量样品高度3cm  10cm  15cm  20cm 四种规格可选

测量样品长宽均为55cm  

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度

每层镀层分开显示各自厚度.

测量时间:10-30秒

韩国Micro Pioneer XRF-2000测厚仪

量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。

 

X-RAY膜厚仪

品牌:Micro Pioneer

原产地:韩国

型号XRF-2020

功能及应用:测量镀:镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等

可测单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限底材。

 

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