铜上镀锡X-RAY膜厚测试仪:测试范围：0.1-50um

X-RAY膜厚仪型号韩国XRF-2020系列

品牌：Micro Pioneer

仪器功能及应用：

检测电镀与化学镀层：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。

X-RAY膜厚仪型号韩国XRF-2020系列测厚仪​检测范围

Au  0.03-6um

Pd  0.03-6um

Ni  0.5-30um

Ni-P 0.5-30um

Sn 0.3-50um

Ag  0.1-50um

Cr  0.5-30um

Zn  0.5-30um

ZnNi 0.5-30um

SnCu 0.5-30um

X-RAY膜厚仪型号韩国XRF-2020系列​测厚仪精度控制：

*层：±5%

第二层：±8%

第三层：±15%

X-RAY膜厚测试仪韩国XRF-2020系列

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

测量的厚度范围为0.03微米～35微米。

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。

X-RAY膜厚仪型号韩国XRF-2020系列测厚仪三款型号

不同型号各种功能相同

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2020N型:测量样品高度不超过25cm  (长20宽18cm)

XRF-2020H型:测量样品高度不超过12cm  (长20宽17cm)

XRF-2020L型:测量样品高度不超过3cm   （长20宽19cm）

XRF-2020PCB型:测量样品高度不超3cm,PCB板

X-RAY膜厚仪型号韩国XRF-2020系列

仪设备功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系统

使用X荧光射线非接触非破坏快速测量膜厚层

各种样品单层至多层（5层），合金膜层均可测量

定点自动定位分析

光径对准全自动

影像重叠功能

自动显示测量参数

彩色区别测量数据

X-RAY膜厚仪型号韩国XRF-2020系列测厚仪多重统计显示视窗与报告编辑

应用2D/3D，任意位置测量控制Y轴全自动控制雷射对焦与自动定位系统

多种机型选择X-ray运行待命（睡眠）控制温控稳定延长校准时效全进口美日系零件价格优势及快速的服务时效

X-RAY膜厚仪型号韩国XRF-2020系列
品牌： 微先锋Micro Pioneer
货号：XRF-2020系列测厚仪
品名：X-RAY膜厚仪

铜上镀锡X-RAY膜厚测试仪:测试范围：0.1-50um