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产品名称:微先锋XRF-2000测厚仪标准片校正片

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产品特点:X光测厚仪标准片,X光镀层测厚仪校准片
微先锋XRF-2000测厚仪标准片校正片
用于检测电镀层测厚仪数据是否准确

微先锋XRF-2000测厚仪标准片校正片的详细资料:

 

微先锋XRF-2000测厚仪标准片校正片

应用于Micro Pioneer XRF-2000测厚仪校正及程序更新

XRF-2000测厚仪标准片:金,镍,铜,锌,铬,银,锌镍合金:各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪

标准片均附带证书

 

X光镀层测厚仪标准片,X-RAY膜厚仪校正片,膜厚仪标准块

 

适合各种X射线镀层测厚仪

 

 

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 

 

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 
    

 

微先锋XRF-2000测厚仪标准片校正片

应用于Micro Pioneer XRF-2000测厚仪校正及程序更新

XRF-2000测厚仪标准片:金,镍,铜,锌,铬,银,锌镍合金:各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪

标准片均附带标准证书

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层厚度测试仪,电镀测厚仪,镀层膜厚仪

 

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