X射线镀层测厚仪系统校正片标准片的详细资料:
X射线镀层测厚仪系统校正片标准片:应用于X射线测厚仪校正及增添程序
标准片各种规格及元素:铜,镍,金,钯,铂,锌,铬,银,锌镍合金
应用于测厚仪校正及程序更新
XRF-2000测厚仪标准片:金,镍,铜,锌,铬,银,锌镍合金:各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪
标准片均附带证书
X光镀层测厚仪标准片,X-RAY膜厚仪校正片,膜厚仪标准块
适合各种X射线镀层测厚仪
电镀镀层测厚仪校正片标准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
电镀镀层测厚仪校正片标准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
韩国XRF-2000镀层测厚仪标准片
应用于Micro Pioneer XRF-2000测厚仪校正及程序更新
XRF-2000测厚仪标准片:金,镍,铜,锌,铬,银,锌镍合金:各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪
标准片均附带标准证书
XRF-2020电镀层测厚仪
品牌:Micro Pioneer
原产地:韩国
型号:XRF-2020系列
韩国XRF-2020应用领域:
检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架等电镀层厚度。
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
测量的镀层范围:0.03微米~35微米。
可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料。
韩国XRF-2020电镀层测厚仪精度:
表层:±5%
第二层:±8%
第三层:±15%
测量镀种为:镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料。
韩国XRF-2020电镀层测厚仪型号介绍
XRF-2020膜厚仪H型:测量样品高度不超过12cm
XRF-2020膜厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2020电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm
韩国微先锋XRF-2020电镀层测厚仪
应用于快速准确无损检测各种金属镀层厚度:
测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
韩国XRF-2020测厚仪:可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等,不限底材。
如单镀层铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀锌,铜上镀锡,铁上镀镍等
双镀层如铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍,铜上镀镍镀银等,不限底材
多镀层如:ABS上镀铜镀镍镀铬,铁上镀铜镀镍镀金等,不限底材
合金镀层如:铁上镀锌镍等。不限底材
X射线镀层测厚仪系统校正片标准片:应用于X射线测厚仪校正及增添程序
X-RAY膜厚仪校正片标准片:有多种数值规格可选,测厚仪标准片均附带证书
X光测厚仪,X光镀层测厚仪,电镀层测厚仪,电镀测厚仪,镀层测厚仪,X光膜厚仪,镀层膜厚检测仪,电镀镀层测厚仪,XV镀层测厚仪,X-RAY镀层膜厚检测仪,镀
层厚度测试仪,电镀测厚仪,镀层膜厚仪
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