测厚仪标准片校正片​

应用于测厚仪校正及程序更新

XRF-2000测厚仪标准片：金,镍，铜，锌,铬，银,锌镍合金：各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪

标准片均附带证书

适合各种X射线镀层测厚仪

X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法

是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品

以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 

测厚仪标准片校正片

应用于Micro Pioneer XRF-2000测厚仪校正及程序更新

XRF-2000测厚仪标准片：金,镍，铜，锌,铬，银,锌镍合金：各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪

标准片均附带标准证书

XRF-2020电镀层测厚仪

品牌：Micro Pioneer

原产地：韩国

型号：XRF-2020系列

韩国XRF-2020应用领域：

检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架等电镀层厚度。
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等
测量的镀层范围:0.03微米～35微米。
可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。

韩国XRF-2020电镀层测厚仪​精度：

表层：±5%

第二层：±8%

第三层：±15%

测量镀种为：镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料。