半导休支架镀锡X-RAY膜厚仪的详细资料:
半导休支架镀锡X-RAY膜厚仪镀锡厚度测量范围0.1-50um
铜上镀锡X射线测厚仪:检测电子电镀层厚度,铜上镀锡,铁上镀锡
铁上镀铜镀锡等
XRF-2020电镀层测厚仪
品牌 : MICRO PIONEER 先锋
原产地 : 韩国
仪器功能 : 測量电镀层厚度
检测电子电镀,化学镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.03-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒便可准确知道镀层厚度
韩国XRF-2020镀层测厚仪
全自动台面,自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
特别订制可测20cm以内高度产品
镀层厚度测试范围:0.03-35um
可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度
测量时间:10-30秒
精度控制:
表层:±5%以内,第二层:±8%以内, 第三层:±12%以内
测厚仪韩国Micro Pioneer XRF-2020
测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等。
韩国XRF-2020电镀测厚仪
品牌:Micro Pioneer
原产地:韩国
型号XRF-2020
功能及应用:测量镀:镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
可测单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限底材。
韩国Micro Pioneer XRF-2020镀层测厚仪
铜上镀锡X射线测厚仪:检测电子电镀层厚度,铜上镀锡,铁上镀锡
铁上镀铜镀锡等
半导休支架镀锡X-RAY膜厚仪
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