X-RAY膜厚仪先锋XRF-2020测厚仪的详细资料:
X-RAY膜厚仪先锋XRF-2020测厚仪
原产地:韩国
品牌:Micropioneer微先锋
型号:XRF-2000已升级为XRF-2020
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型 测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg
应用:电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度
单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等
双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等合金镀层:
铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等
表层:±5%以内
第二层:±10%以内
第三层:±15%以内
X-RAY膜厚仪先锋XRF-2020测厚仪
XRF-2020电镀测厚仪的特征:
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。
薄膜FP法软件是标准配置,可同时对多层镀层及合金镀层厚度和成分进行测量。此外,也适用于无铅焊锡的应用。
备有250种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品。
XRF-2020电镀测厚仪仪器系统结构:
测量部分的结构:用于照射(激发)的X射线是采用由上往下照射方式,用准直器来确定X射线的光束大小。
样品的观察是利用与照射用的X射线同轴的CCD摄像机所摄制的图像来确定想要测量的样品位置。标准配备了多种尺寸的准直器可根据需要调整照射X射线的光束大小来决定测量面积
韩国Micropioneer微先锋XRF-2020测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层
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