产品展示
当前位置:首页 > 产品展示 > > X光镀层测厚仪 > 铑钯铂标准片X射线测厚仪校正片

产品名称:铑钯铂标准片X射线测厚仪校正片

产品型号:

产品报价:

产品特点:铑钯铂标准片X射线测厚仪校正片
应用于测厚仪校正及程序更新
标准片均附带证书
镀层测厚仪标准片校正片X-RAY膜厚仪校准片
适合各种X射线镀层测厚仪

铑钯铂标准片X射线测厚仪校正片的详细资料:

铑钯铂标准片X射线测厚仪校正片

 

铑:0.1um,0.4um

铂:0.1um,0.27um

钯:0.05um,0.06um,0.2um,0.3um,0.6um,1.10um

金:0.04um.....6um

银:0.28um.....20um

镍:0.5um.....30um

锡:0.3um......30um

以上标准片各种数值均无订制,标准片均附带证书

 

MicroPioneerXRF-2020

微先锋X射线测厚仪标准片

应用于测厚仪校正及应用程序添加

 

XRF-2000测厚仪标准片:金,镍,铜,锌,铬,锡,银,锌镍合金等

各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪

标准片均附带证书

 

镀层测厚仪标准片校正片X-RAY膜厚仪校准片

适合各种X射线镀层测厚仪

 

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 

 

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。 
 

韩国MicroPioneerXRF-2020提供金,镍,铜,锌,铬,锡,银,锌镍合金等标准片

各种规格及厚度范围匀可订制。

 

铑钯铂标准片X射线测厚仪校正片

应用于X-RAY膜厚仪测量程序校正及添加

 

标准片所有X射线测厚仪通用

铜,镍,锌,铬,金,锡,银,铂,铑,钯,锌镍合金:

各种规格厚度标准片均有

 

 

铑钯铂金银锡:各种首饰镀金应用校正及测量

厚仪,X光镀层测厚仪,电镀层测厚仪,电镀测厚仪,镀层测厚仪,X光膜厚仪,镀层膜厚检测仪,电镀镀层测厚仪,XV镀层测厚仪,X-RAY镀层膜厚检测仪,镀

层厚度测试仪,电镀测厚仪,镀层膜厚仪

 

 如果你对铑钯铂标准片X射线测厚仪校正片感兴趣,想了解更详细的产品信息,填写下表直接与厂家联系:

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
点击这里给我发消息
联系人:樊先生
手机:
13761400826