X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020L型测厚仪2000H型

型号规格：

XRF-2020L型：

测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:

测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

XRF-2020电镀层测厚仪

检测电子电镀,五金电镀

LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

可测试单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层：

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

仪器原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

型号：XRF-2020

测量​精度

首层：±5%以内，第二层：±10%以内，第三层：±15%以内

X-RAY电镀测厚仪测试范围   

镀金：0.03-6um

镀钯：0.03-6um

镀镍：0.5-30um

镀锡：0.3-50um

镀银：0.1-50um

镀铬：0.5-30um

镀锌：0.5-30um

镀锌镍合金：0.5-30um

X-RAY膜厚仪韩国XRF-2020L型测厚仪2000H型规格如下图

X-RAY膜厚测试仪韩国MicropioneerXRF-2020系列

1,可以测量多层膜中每一层的厚度

2,三维的厚度型貌

3,仪器全自动台面

4,可做长550mm*宽550*高200mm的大范围自动样片台（常规高30与120mm)

5,自动雷射对焦，可实际多点自动测量.

6,软件操作非常简单,测速快:测试时间5-30秒可自行设置。