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产品名称:镀层测厚仪XRF-2020性能特点

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产品特点:镀层测厚仪XRF-2020性能特点
通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层

镀层测厚仪XRF-2020性能特点的详细资料:

XRF-2020H型镀层测厚仪(测量样品高度12cm内)

XRF-2020L型镀层测厚仪(测量样品高度3cm内)

长宽均为55cm以内

 

检测电子电镀,五金电镀

LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

 

通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

可测单层,双层,多层,合金镀层


1,可以测量多层膜中每一层的厚度

2,三维的厚度型貌

3,仪器全自动台面

4,可做长550mm*宽550*高200mm的大范围自动样片台(常规高30与120mm)

5,自动雷射对焦,可实际多点自动测量.

6,软件操作非常简单,测速快:测试时间5-30秒可自行设置。

 

镀层测厚仪XRF-2020性能特点如下图所示:

  

 

镀层测厚仪XRF-2020性能特点

韩国MicropioneerXRF-2020系列


1,可以测量多层膜中每一层的厚度

2,三维的厚度型貌

3,仪器全自动台面

4,可做长550mm*宽550*高200mm的大范围自动样片台(常规高30与120mm)

5,自动雷射对焦,可实际多点自动测量.

6,软件操作非常简单,测速快:测试时间5-30秒可自行设置。

 

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