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产品名称：镀层测厚仪XRF-2020性能特点
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产品特点：镀层测厚仪XRF-2020性能特点通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...可测单层,双层,多层,合金镀层
镀层测厚仪XRF-2020性能特点的详细资料：
XRF-2020H型镀层测厚仪（测量样品高度12cm内）
XRF-2020L型镀层测厚仪（测量样品高度3cm内）
长宽均为55cm以内
检测电子电镀,五金电镀
LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度
通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层
1,可以测量多层膜中每一层的厚度
2,三维的厚度型貌
3,仪器全自动台面
4,可做长550mm*宽550*高200mm的大范围自动样片台（常规高30与120mm)
5,自动雷射对焦，可实际多点自动测量.
6,软件操作非常简单,测速快:测试时间5-30秒可自行设置。
镀层测厚仪XRF-2020性能特点如下图所示：
镀层测厚仪XRF-2020性能特点
韩国MicropioneerXRF-2020系列
1,可以测量多层膜中每一层的厚度
2,三维的厚度型貌
3,仪器全自动台面
4,可做长550mm*宽550*高200mm的大范围自动样片台（常规高30与120mm)
5,自动雷射对焦，可实际多点自动测量.
6,软件操作非常简单,测速快:测试时间5-30秒可自行设置。
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