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产品名称:X射线电镀层测厚仪X-RAY膜厚仪XRF-2020L

产品型号:

产品报价:

产品特点:X射线电镀层测厚仪X-RAY膜厚仪XRF-2020L
通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层

X射线电镀层测厚仪X-RAY膜厚仪XRF-2020L的详细资料:

X射线电镀层测厚仪X-RAY膜厚仪XRF-2020L

 

通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

可测单层,双层,多层,合金镀层

 

XRF-2020测厚仪

韩国Micropioneer微先锋系列

标牌:Micro Pioneer

货号:XRF-2020H,XRF-2020L,XRF-PCB三款

 
XRF-2020测厚仪H型:测量样品高度不超过12cm

XRF-2020测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2020测厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm



检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度

可测量镀金,镀银.镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等

可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测

方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。

XRF-2020镀层测厚仪

韩国Micropioneer

可用于测量工件、PCB及五金、连接器、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, 小测量面积为直径为0.2mm的圆面积; 测量范围:0-35um;
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量


XRF-2020镀层测厚仪

韩国Micropioneer测量原理:

物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。
 

韩国Micropioneer的特征:

可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触或破坏被测物。

 

XRF-2020测厚仪

韩国Micropioneer检测范围

 
镀金:0.03-6um
镀钯:0.03-6um
镀镍:0.5-30um
镀锡:0.3-50um
镀银:0.1-50um
镀铬:0.5-30um
镀锌:0.5-30um
镀锌镍合金:0.5-30um

X射线电镀层测厚仪X-RAY膜厚仪XRF-2020L规格型号如下图所示


可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层等,不限底材。
如单镀层铜上镀银,铜上镀镍,铜上镀锌,铜上镀锡,铁上镀镍等
双镀层如铜上镀镍镀金,铁上镀铜镀镍,铜上镀镍镀银等,不限底材
多镀层如:ABS上镀铜镀镍镀铬,铁上镀铜镀镍镀金等,不限底材
合金镀层如:铁上镀锌镍等。不限底材

 

韩国电镀测厚仪MicrPXRF-2020测厚仪

整机*

三款机型均为全自动台面,自动雷射对焦。

 

 

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