仪器原理：

X射线或粒子射线经物质照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。

从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来

而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度

来进行定性和定量分析

仪器特色：

快速无损检测电镀层厚度,仪器全自动，自动雷射对焦！

自动睡眠模式.延长X光管使用寿命

仪器功能：电镀膜厚测试仪韩国测厚仪XRF-2020

测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架半导体连接器等电镀层厚度。

测量金镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

原产地：韩国

品牌：Micropioneer微先锋

货号：XRF-2020

规格型号：

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

应用：

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

X射线膜厚测试仪X-RAY电镀测厚仪

韩国MicroPXRF-2020系列

配置

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量