膜厚测试仪标准片X光测厚仪校正块的详细资料:
XRF-2020镀层测厚仪
标准片:校正片
应用于测厚仪校正及应用程序添加
XRF-2000测厚仪标准片:金,镍,铜,锌,铬,锡,银,锌镍合金等
各镀种标片及范围通用于所有品牌测厚仪
标准片均附带证书
标准片X射线镀层测厚仪校正片
适合各种X射线镀层测厚仪
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品,根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系,来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品,以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
韩国MicroPioneerXRF-2020提供金,镍,铜,锌,铬,锡,银,锌镍合金等标准片
各种规格及厚度范围匀可订制。
准片如下图所示
XRF-2000镀层测厚仪标准片校正块光测
标准片所有X射线测厚仪通用
铜,镍,锌,铬,金,锡,银,锌镍合金:各种规格厚度标准片均有
镀层测厚仪锌镍合金标准片
韩国微先锋MicroPXRF-2020测厚仪图
镀层测厚仪标准片:可定制
测厚仪标准片,校正片,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪
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