铜镀锡X射线测厚仪膜厚仪的详细资料:
膜厚测试仪微先锋XRF-2020
韩国Micropioneer系列镀层测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度
测量镀金,镀银,镀镉,镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等
可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测
方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。
可用于测量工件:PCB及五金工件、连接器端子接插件、半导体产品等各种金属镀层厚度。
测量时间只需要10-30秒即可获得测量结果, 可测量直径为0.2mm的产品。
测量范围:0.03-35um;
测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积进行镀层厚度的测量
详情如下图所示铜镀锡X射线测厚仪膜厚仪
膜厚测试仪微先锋XRF-2020
韩国Micropioneer系列镀层测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度,
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
铜镀锡X射线测厚仪膜厚仪
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