韩国X射线镀层测厚仪XRF-2020L型

测量镀金,镀银,镀镍,镀锡,镀铜,镀铬,镀锌,镀钯,镀锌镍合金等

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层,不限基材

常规测量范围0.03-35um

XRF-2020系列型号

H 型 ：容纳样品长55cm  宽55cm   高10cm (订制可加高至20cm ）

L 型： 容纳样品长55cm   宽55cm  高3cm

PCB 型：开放式设计，可测大型样品

XRF-2020可测六层

误差大约：第一层±5% 内：第二层±10% 内：第三层±15% 内

XRF-2020部份测量范围:

金:0.03-6um          镍:0.3-30um

钯:0.03-6um          锌:0.3-30um

锡:0.3-50um          银:0.1-50um

铬:0.5-25um          铜: 0.5-30um

锌镍合金: 0.5-25um

化学镍: 0.5-25um

X-RAY膜厚测试仪韩国电镀测厚仪产品如下图所示

X-RAY膜厚仪韩国Micropioneer

韩国X射线镀层测厚仪XRF-2020L型

检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架半导体连接器等电镀层厚度。

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量，不限底料

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量。

通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...

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