微先锋X光镀层测厚仪XRF-2020

测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

微先锋XRF-2020

检测电子电镀,五金电镀,端子连接器等产品电镀层厚度

测量镀金,镀银,镀镉,镀锌.镀镍,镀锡.镀铬,镀锌镍等

可广泛使用于电镀生产企业及成品来料检测

方便更有效控制产品电镀层厚度及品质。

可用于测量工件：PCB及五金工件、连接器端子接插件、半导体产品等各种金属镀层厚度。

测量时间只需要10-30秒即可获得测量结果, 可测量直径为0.2mm的产品。

测量范围：0.03-35um;
测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积进行镀层厚度的测量

仪器全自动台面

自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量。

XRF-2020膜厚测试仪器操作流程

1． 仪器及附件均处开机状态（电脑，显示器）

2． 在程序库中选中与产品对应的曲线（产品需与曲线一致）

3．  打开仪器前盖，台面自动伸出

4．  将样品放入仪器台面，测量大致位置对准仪器红外对焦点

5．  关闭仪器前盖，仪器台面自动归位

6．  在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调，精确对准测试位置

7．  点击SART测试：

8．  测试过程中X-RAY指示灯亮红，此时严禁打开仪器前盖。

9．  测试时间15秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度

10． X-RAY指示灯熄灭，打开仪器前盖，台面自动伸出

11． 取出样品，完成测试

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微先锋X光镀层测厚仪XRF-2020