micropioneer测厚仪韩国XRF-2000膜厚仪

韩国微先锋MicroP XRF-2020

Micropioneer XRF-2000系列

快速无损测量电镀层厚度

测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...不限基材

镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um

镀金测量范围0.02-6um

镀锡测量范围1-60um

镀锌测量范围0.5-30um

锌镍合金测量范围1-25um

可用于测量工件、PCB及五金、连接器、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。

只需要10-30秒即可获得测量结果, 小测量面积为直径为0.2mm的圆面积;

测量范围：0-35um;
可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量

仪器规格

XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高12cm:台载重5kg

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

MicroPXRF-2000镀层测厚仪

快速无损测量

镀金，镀银，镀锡，镀银，镀镍，镀铜，镀锌镍合金等！

Microp XRF-2000型号已升级为XRF-2020

微先锋MicroP XRF-2020

通过CCD镜头观察快速无损测试镀层膜厚

测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡
测量的镀层范围:0um～35um。

XRF-2020膜厚仪测量原理：

物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

micropioneer测厚仪韩国XRF-2000膜厚仪

快速无损测量电镀层厚度