XRF-2020L膜厚仪功能及原理

XRF-2020系列系统利用了当一个样品被x射线辐射照射时，样品的原子被激发的现象。当原子恢复到稳定状态时，它们会发出x射线光子。每个元素都有其不同的特征发射线。这些能量被记录在系统中，并存储于计算机。通过将获得的光谱中的元素线与系统数据库中列出的相应元素线进行比较，来确定给定样本的元素。

在获得的光谱中，元素线的强度（幅度）与其浓度或厚度有关。增加元素的浓度或厚度结果是该元素的荧光辐射特性强度的增加。通过使用经验或理论的物理模型，该系统可以提供精确的定性和定量的分析或厚度测量。

韩国MicropioneerXRF-2000/XRF-2020

功能及应用:

快速无损测量电镀层厚度

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层

测量镀金 镀银 镀镍 镀锡 镀铜 镀铬 镀锌镍合金等！

测量范围0.02-35um

镀层测厚仪功能XRF-2020膜厚测量仪

XRF-2020测厚仪规格

XRF-2020L型:

测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg

XRF-2020H型:

测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg

仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量

多个准直器可选择：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换

XRF-2020L膜厚仪功能及原理

原产地：韩国

型号：XRF-2020系列

功能及应用:

快速无损测量电镀层厚度

可测单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层

测量镀金 镀银 镀镍 镀锡 镀铜 镀铬 镀锌镍合金等！

测量范围0.02-35um

镀层测厚仪功能XRF-2020膜厚测量仪