X射线金属镀层测厚仪韩国膜厚测试仪的详细资料:
X射线金属镀层测厚仪韩国膜厚测试仪:测量范围:0.02-35um
原产地:韩国
型号:XRF-2020系列
功能及应用:
快速无损测量电镀层厚度
可测单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层
测量镀金 镀银 镀镍 镀锡 镀铜 镀铬 镀锌镍合金等!
测量范围0.02-35um
镀层测厚仪功能XRF-2020膜厚测量仪
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
适应电子电镀表面处理,五金,端子连接器,半导体,PCB板
汽车零配件磁性材料等行业
快速无损测量
韩国测厚仪X-RAY膜厚仪
镀金,镀银,镀锡,镀银,镀镍,镀铜,镀锌镍合金等!
XRF-2020H型号
仪器尺寸:610×670×600mm;
样品台尺寸:300×240mm;
样品台移动范围:前后150mm 左右200mm、高度100mm
X射线金属镀层测厚仪韩国膜厚测试仪测量范围:0.02-35um
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