X荧光镀层测厚仪微先锋XRF-2020膜厚仪的详细资料:
X荧光镀层测厚仪微先锋XRF-2020膜厚仪
产品功能:
1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层厚度,单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层,不限基材!
1. 镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、金,铬,锌镍合金等。
2. 镀层层数:可测5层。
3. 测量产品位置尺寸:标准配备0.2mm准直器,测量产品大于0.4mm(可订制更小准直器)
4. 测量时间:通常15秒。
5. H型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 100 mm (长x宽x高)。
6 L型号机箱容纳样品尺寸:550 x 550 x 30 mm (长x宽x高)。
7. 测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。
8. 可测厚度范围:通常0.01微米到60微米,视样品组成和镀层结构而定。
产品参数:
X射线光管 钨靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm
高电压 50千伏(1毫安)可根据软件控制优化
探测器 高分辨气体正比计数探测器
准直器 单一固定准直器直径0.2mm(可选或订制其他规格)
全自样品台,自动雷射对焦
功能应用:
检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架半导体连接器等电镀层厚度。
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等
可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料
镀银测量范围0.1-50um
镀镍测量范围0.5-30um
镀铜测量范围0.5-30um
镀锡测量范围0.5-50um
镀金测量范围0.03-6um
镀锌测量范围1-30um
锌镍合金测量范围1-25um
镀铬测量范围0.5-25um
仪器全自动台面,自动雷射对焦,多点自动测量
多个准直器可选择:0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多个或单个准直器,准直器大小可自动切换
X荧光镀层测厚仪微先锋XRF-2020膜厚仪规格
XRF-2020L型:测量样品长宽55cm,高3cm:台面载重3kg
XRF-2020H型:测量样品长宽55cm,高10cm:台载重5kg
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