Micrp XRF-2020测厚仪标准片

标准件是X-RAY膜厚测量仪检测工具

用于校正检测应用曲线准确性

膜厚测试仪中的测量曲线准确与否须经用校整计量后的标准件检测及更新

应用于测厚仪校正及测量曲线更新

标准件各种厚度均可以订制:金镍银锡铜锌钯铂钛锌锌合金等

标准件均含计量校正证书

适合各种X射线镀层测厚仪,各种不同品牌通用

Micrp XRF-2020测厚仪标准片

适合各种X射线镀层测厚仪

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片

专业用于X射线测厚仪在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案，在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品

根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系

来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。

对于PCB、五金端子连接器电镀和半导体等行业

使用测厚仪检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

标准件为薄片，可自由组合不同镀层，如下图所示

测厚仪标准片韩国XRF膜厚仪校正片

标准片所有X射线测厚仪通用

钛，钯，铜，镍，锌，铬，金，锡，银，锌镍合金:

各种规格厚度标准片均订制

标准件各种厚度均可以订制:

金镍银锡铜锌钯铂钛锌锌合金等

均含计量校正证书

标准件

适应不同品牌镀层测厚仪

标准片通用！

应用于测厚仪校正及程序更新