镀层测厚仪韩国XRF-2020技术规格参数

测量原理，应采用X射线荧光（XRF）法，确保对非破坏性

多层镀层的精确测量。

镀层膜厚仪技术参数

序号项目技术要求

1：测量原理

     应采用X射线荧光（XRF）法，确保对非破坏性、多层镀层的精确测量。

2：测量厚度范围"覆盖范围：至少覆盖0.0075μm ~ 200μm

     低迈金测试要求，可对0.4~0.8迈厚度镀层进行精准测试"

3：测量元素范围：可测量从硫(S)到铀(U)之间的所有元素

确保涵盖常见镀层

（如Au, Ag, Ni, Cu, Sn, Zn, Cr等）及基材

（如Fe, Cu, Al, 及各类各类材料等）

4：测量精度：在标准样品和条件下，测量重复性（标准偏差）优于0.01μm或读数（以较大者为准）。

满足低迈金（0.4~0.8迈）镀层的精准测试要求。

5：测量速度：单点测量时间应可调，典型测量时间≤30秒，以满足快速检测需求。

6：X射线管：配备高性能、长寿命的端窗式X射线管，功率≥50W。

7：摄像头与定位：集成高分辨率彩色摄像头定位系统，实现样品测量点的精确观察、定位和自动对焦。

准直器：配备多尺寸可自动切换的准直器（如0.1mm, 0.2mm, 0.3mm, 04mm,0.05×0.3mm等），以适应不同大小的测量区域。

最小测试点位可达到：0.1mm"

10：滤光片配备多个可自动切换的初级滤光片，以优化不同元素的测量信号。

11：操作系统与软件配备专用分析软件，界面直观，支持图标一键式操作。

12：校准与标准化"1、软件内置校准和标准化功能，支持多点校准、基材校正和标准样品校准，确保长期稳定性。

2、密度修正, 標準樣品再校正"

13：数据库与程序内置丰富的镀层/基材组合标准测量程序库，并支持用户自定义和保存测量程序。

14：数据管理具备测量数据存储、查询、统计和导出功能（可导出为Excel、PDF等格式）。支持SPC统计过程控制分析。

15：报告生成可自定义生成包含测量数据、统计结果、样品图像等信息的彩色专业检测报告，多种报告格式

16：环境适应性：工作温度：15°C ~ 30°C；相对湿度：≤80%（无冷凝）。

17：培训与安装供应商需提供现场安装、调试及操作和维护培训。

设备要求全自动XYZ样品台

激光自动对焦系统

十字线自动调整

多镀层、电镀液分析

可测单镀层,双镀层,多镀层,合金镀层

自动睡眠模式,延长X-射线管寿命

简易自动对位

具温度补偿功能

测试用途测量端子连接器五金／半导体等

主机小大小610W x 670D x 490H

可测量样品大小550W x 550D x 30H

XYZ移动范围200W x 150D x 30H

负重3kg

主機箱输入电压:AC220V+10%50/60Hz

沟通方法:RS-232C

温度控制:前置放大及机箱温度控制

对焦:激光自动对焦

样品对位:激光对位

安全装置:若测量中箱门打开,X射线会在0.5秒内关闭

表面泄漏:少于1μSV

多通道分析，通道数量:1024ch

温度控制:自动前置放大温度控制

脉冲处理:微电脑高速处理器

X射线源

X射线管:油冷,超微细对焦(选项)

高压0-50kV(程控)

管电流:0-1mA(程控)

目标靶:W靶

电脑系统电脑:IBM兼容

显示器:21时彩色显示器

打印机:喷墨彩色打印机

2D、3D、随机位置测量2D:均距表面测量

3D:表面排列处理测量

随机位置:任意设定测量点

检测系统检测器：正比计数器

X-Y-Z 三轴自动样片台 操作模式： 高速精密马达，可控制加减速

位置控制鼠标定位

样品台视窗控制

防呆摄录机监控

2D、3D、随机定位

程控定位

箱门开关感应Y轴传输

摄像系统摄像机:彩色数字CCD摄像头

显示模式:显示器覆盖模式

刻度线:软件产生

光束显示:软件显示真实大小

照明灯:光暗控制

自动修正功能:光束及十字线自动修正

统计功能处理项目:最大/最小值,位移,平均值,标准差,Bar图表R图表及方型图等等

报表:多种模式可选

处理能力:不少于90项

标志功能:可插入公司标志

预览:打印前预览

定性分析显示模式：原素频谱显示

方法：ROI距离定性分析

原素显示：标签图案显示

指标显示：显示原素及测量数值

ROI显示：显示ROI彩色图

放大功能：局部倍大

平均功能：柔和显示频谱

视窗大小：无级别式视窗大小

XRF-2020测厚仪

韩国Microp微先锋系列

标牌：MicroP XRF-2020

货号：XRF-2020H，XRF-2020L,XRF-PCB三款

XRF-2020测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2020测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2020测厚仪PCB型:PCB板检测专用款

Microp XRF-2020测厚仪X射线镀层测厚仪

三款机型均为全自动台面，自动雷射对焦。

快速测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡,镀铬,镀铜,镀锌镍合金等！

可测量单镀层，双镀层，多镀层及合金镀层。

镀层测厚仪韩国XRF-2020技术规格如上所示