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产品名称：X射线铜上镀银测厚仪
产品型号：
产品报价：
产品特点：X射线铜上镀银测厚仪:测量范围0.1-50um可测铜上镀银,铝上镀镍镀铜镀银,铜上镀镍镀银等
X射线铜上镀银测厚仪的详细资料：
X射线铜上镀银测厚仪:测量范围0.1-50um
韩国Micro Pioneer(先锋)X射线镀层测厚仪
XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号
不同型号各种功能一样
机箱容纳样品大小有以下不同要求
XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品
韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪
检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度
主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等
韩国XRF2000镀层测厚仪
全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度3cm以内或10cm
镀层厚度测试范围：0.03－35um
可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
X射线铜上镀银测厚仪:测量范围0.1-50um
可测铜上镀银,铝上镀镍镀铜镀银,铜上镀镍镀银等
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