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产品名称:X射线无损测厚仪/电镀测厚仪

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产品特点:X光测厚仪,X光镀层测厚仪,电镀层测厚仪,电镀测厚仪,镀层测厚仪,X光膜厚仪,镀层膜厚检测仪,电镀镀层测厚仪,XV镀层测厚仪,X-RAY镀层测厚仪,镀层厚度测试仪,电镀测厚仪,镀层膜厚仪电镀膜厚仪,XV膜厚仪,镀层膜厚仪,X射线电镀测厚仪X射线镀层测厚仪,电镀测膜仪,膜厚测试仪,镀金测厚仪,镀银测厚仪镀镍测厚仪,镀锌测厚仪

X射线无损测厚仪/电镀测厚仪的详细资料:

韩国Micro Pioneer先锋XRF-2000镀层测厚仪(*)

检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度,

韩国XRF2000镀层测厚仪

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过4cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.03-35um

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
合金镀层:如铁上镀锡铜等
测量时间:10-30秒
精度控制:
      *层:±5%以内
      第二层:±8%以内
      第三层:±12%以内


XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

 

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