韩国微先锋XRF-2000系统镀层测厚仪的详细资料:
韩国微先锋XRF-2000系统镀层测厚仪
韩国微先锋XRF-2000系统镀层测厚仪特点:
1. H型: 密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。
2. L型: 密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。
3. PCB型: 开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下
应用 :
检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度
测量范围根据不同镀层0.04-35um
精度控制:
*层:±5%以内
第二层:±8%以内
第三层:±12%以内
测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )。
特色 :
非破坏,非接触式检测分析,快速精确。
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 底材 ) 并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。
全系列*设计样品与光径自动对焦系统。
标准配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。
准直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。
*2D与3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦,配合CCD摄取影像使用point and shot功能。
标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。
光学20倍影像放大功能,更能精确对位。
单位选择: mils 、 uin 、 mm 、 um 。
优于美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的*优势。
还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号
Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪
是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能,
其物点为:高分辨率,固态探测器;可分析超薄样品
分析有害物质,元素分析分之ppm - 100%,符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;
可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析;
电镀溶液分析;
定性分析超过30种元素,能够测量液体,固体,粉末,薄膜和不规则形状;
贵金属元素含量和分析(金,银,铂,和珠宝);
自动过滤器,多准直仪(五个准直器,从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台;
性价比*的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器
仪器尺寸:W610mm D670mm H490mm,重量:75Kg (net)
可测量样器大小:W550mm D550mm H30mm
电镀膜厚仪
X射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分及电镀层膜厚
韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层
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