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产品名称:X射线荧光镀层测厚仪型号功能

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产品特点:x射线荧光镀层测厚仪
检测电子电镀镀层厚度,可测量各种金属镀层,如镀金,镀银,镀铜,镀锌,镀镍,镀锡等
可测量单镀层,双镀层,合金镀层及电镀药液等方面
仪器为全自动台面,自动需射对焦
X射线荧光镀层测厚仪型号功能

X射线荧光镀层测厚仪型号功能的详细资料:

 

X射线荧光镀层测厚仪型号功能

 

韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号

不同型号各种功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品

 

 

 

韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪功能

 

检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度

主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等

 

韩国XRF2000镀层测厚仪

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品)
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围:0.03-35um

 

可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度

(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
 

(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
 

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
 

合金镀层:如铁上镀锡铜等
 

测量时间:10-30秒
 

精度控制:
      *层:±5%以内
      第二层:±8%以内
      第三层:±12%以内


XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统:液晶显示器,惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

x射线荧光镀层测厚仪:检测电子电镀层厚,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡等
 

 

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