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产品名称：韩国XRF-2020测厚仪标准片校正块
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产品特点：韩国XRF-2020测厚仪标准片校正块用于仪程序标准程序设定及校准仪器检测电子电镀,化学电镀层厚度,如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...可测单层,双层,多层,合金镀层,
韩国XRF-2020测厚仪标准片校正块的详细资料：
韩国XRF-2020测厚仪标准片校正块
XRF-2000测厚仪标准片
通用型适合各种X光镀层测厚仪
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片
专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。
也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品
根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。以此标准曲线来测量镀层样品，以得到镀层厚度或组成比率。
对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。
韩国MicroPXRF-2020镀层测厚仪
检测电子电镀,五金电镀,PCB板，LED支架等电镀层厚度。
测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍，镀锌镍合金等
可测单镀层，双镀层，多镀层，合金镀层等，不限底材。
如单镀层铜上镀银，铜上镀镍，铜上镀锌，铜上镀锡，铁上镀镍等
双镀层如铜上镀镍镀金，铁上镀铜镀镍，铜上镀镍镀银等，不限底材
多镀层如：ABS上镀铜镀镍镀铬，铁上镀铜镀镍镀金等，不限底材
合金镀层如：铁上镀锌镍等。不限底材
韩国XRF-2020测厚仪标准片校正块
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