韩国XRF-2000镀层测厚仪规格及应用

韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪共三种型号

不同型号各种功能一样

机箱容纳样品大小有以下不同要求

XRF-2000镀层测厚仪型号介绍

XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm

XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm

XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm

韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪

检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度

主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等

韩国XRF2000镀层测厚仪

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度

(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
 

(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
 

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
 

合金镀层:如铁上镀锡铜等
 

测量时间：10－30秒
 

精度控制：
      *层：±5%以内
      第二层：±8%以内
      第三层：±12%以内

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

X-RAY镀层测厚仪韩国Micro pioneer：检测电子电镀层厚，测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀锡等
 

 X光测厚仪,X光镀层测厚仪,电镀层测厚仪，电镀测厚仪,镀层测厚仪,X光膜厚仪,镀层膜厚检测仪,电镀镀层测厚仪,XV镀层测厚仪,X-RAY镀层膜厚检测仪,镀层厚度测试仪,电镀测厚仪,镀层膜厚