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产品名称:铜上镀锡X射线荧光镀层测厚仪

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产品特点:铜上镀锡X射线荧光镀层测厚仪
检测电子电镀,化学电镀层厚度,
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀锌镍,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层

铜上镀锡X射线荧光镀层测厚仪的详细资料:

铜上镀锡X射线荧光镀层测厚仪

 

XRF-2020电镀层测厚仪

 

检测电子电镀,五金电镀,LED支架,端子连接器,半导体等电镀层厚度

 

测试范围   

 

镀金:0.03-6um

镀钯:0.03-6um

镀镍:0.5-30um

镀锡:0.3-50um

镀银:0.1-50um

镀铬:0.5-30um

镀锌:0.5-30um

镀锌镍合金:0.5-30um

 

可测试单镀层,双镀层,多镀层及合金镀层厚度

单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等

双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再镀银,铁上镀铜再镀镍等

多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍再镀金等​合金镀层:

铁上镀锌镍,铜上镀镍磷等

 

韩国MicroPioneerXRF-2000测厚仪

 

原产地:韩国

品牌:Micropioneer微先锋

型号:XRF-2000已升级为XRF-2020

 

测量​精度

首层:±5%以内

第二层:±8%以内

第三层:±15%以内

 

X-RAY韩国先镀电镀测厚仪

检测电子电镀,五金电镀,PCB板,LED支架等电镀层厚度。

测量镀金、镀锌、镀钯、镀铬、镀铜、镀银、镀锡、镀镍,镀锌镍合金等

可测单层、双层、多层、合金镀层测量,不限底料

 

铜镀锡X-RAY膜厚仪韩国先锋测厚仪:铜上镀锡测量范围0.3-50um

 

 

铜上镀锡X射线荧光镀层测厚仪

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