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X光镀层测厚仪的定性和定量分析
点击次数:1005 更新时间:2017-01-11
X光镀层测厚仪物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。
 
X光镀层测厚仪测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。其应用的原理主要是:24V电源供给一个电源转换器,可以输出43KV的高压,高压作用在钨丝上,会产生强烈的电子,电子在运动碰到涂有钨层的底座时发生折射,射出口表面镀一层铍,因为此金属不会吸收电子,保证所发出的电子*射出。当钨丝一直通高压电时就会发热,需要专门的冷却剂(液体)进行冷却。
 
X光镀层测厚仪功能:
采用了磁感应测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度;
可采用两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
操作过程有蜂鸣声提示;电池电压指示:低电压提示自动关机
 
X光镀层测厚仪提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能*,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器,为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。
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