1.通过新薄膜FP法提高测量精度

   X射线镀层测厚仪实现微小光束的高灵敏度，通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外，针对检测器的特性开发了新的EP法，FT110A可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书，简单方便。

    新 薄膜EP法    

      减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化；

      无标样测量方法可进行zui多5层的膜厚测量；

    自动对焦功能和距离修正功能    

      凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量；

    灵敏度提高

      镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2；

    生成报告功能

      一键生成测量报告书。

 

2.自动对焦功能 自动接近功能

   在X射线镀层测厚仪样品台上放置各种高度的样品时，只要高低差在80mm范围内，即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。