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X射线镀层测厚仪两大特长描述
点击次数:854 更新时间:2017-02-21
X射线镀层测厚仪特长:
1.通过新薄膜FP法提高测量精度
   X射线镀层测厚仪实现微小光束的高灵敏度,通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外,针对检测器的特性开发了新的EP法,FT110A可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书,简单方便。
    新 薄膜EP法    
      减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化;
      无标样测量方法可进行zui多5层的膜厚测量;
    自动对焦功能和距离修正功能    
      凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量;
    灵敏度提高
      镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2;
    生成报告功能
      一键生成测量报告书。
 
2.自动对焦功能 自动接近功能
   在X射线镀层测厚仪样品台上放置各种高度的样品时,只要高低差在80mm范围内,即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。
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