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联系我们X荧光镀层测厚仪性能，快速无损
点击次数：887 更新时间：2017-03-23
X荧光镀层测厚仪结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率*，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择zui合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
X荧光镀层测厚仪工作原理：
当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。
使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
X荧光镀层测厚仪是一款快速、无损、准确检测镀层厚度新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测，可以检测如镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等，zui多一次分析五层。
X荧光镀层测厚仪性能优势：
精密的三维移动平台；
的样品观测系统；
先进的图像识别；
轻松实现深槽样品的检测；
四种微孔聚焦准直器，自动切换；
双重保护措施，实现无缝防撞；
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度；
全自动智能控制方式，一键式操作；
开机自动退出自检、复位；
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样；
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦；
直接点击全景或局部景图像选取测试点；
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果。
