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X光镀层测厚仪详细分析功能说明
点击次数:1047 更新时间:2017-04-17
X光镀层测厚仪综合性能:镀层分析、定性分析、定量分析、镀液分析;
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
 
X光镀层测厚仪性能特点及优势: 
高精度移动平台可定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加,微小测试点更。
X光镀层测厚仪优势在于满足客户要求的情况下,价格更优惠、售后服务更方便,维护成本更低。
 
X光镀层测厚仪的测量原理:
物质经X射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来,而此时是以荧光或光的形态被释放出来。X光镀层测厚仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。
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