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X射线镀层测厚仪应用及物理意义
点击次数:980 更新时间:2017-04-24
 X射线镀层测厚仪有着快速,准确,非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
 
X射线镀层测厚仪X射线荧光的物理意义:
X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波,其特性通常用能量(单位:千电子伏特,keV)和波长(单位:钠米,nm)描述。X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。这些核外电子围绕着原子核按不同轨道运转,它们按不同的能量分布在不同的电子壳层:分布在同一壳层的电子具有相同的能量。
当具有高能量的入射(一次)X射线与原子发生碰撞时,会打破原子结构的稳定性。处于低能量电子壳层(如:K层)的电子更容易被激发而从原子中逐放出来,电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子(如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来补充相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来,不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。仪器通过探测不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性,进行分析计算得到各镀层厚度,这一个过程就是我们所说的X射线镀层测厚仪
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