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XRF-2000测厚仪一些功能特色说明
点击次数:875 更新时间:2017-05-12
XRF-2000测厚仪综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
XRF-2000测厚仪统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
 
XRF-2000测厚仪特色:
非破坏,非接触式检测分析,快速。 
可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。 
相容Microsoft微软作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告 。 
全系列*设计样品与光径自动对準系统。 
标準配备: 溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。 
准直器口径多种选择,0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05*0.4mm
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差 。  
*2D与3D或任意位置表面量测分析。 
雷射对焦,配合CCD摄取影像使用point and shot功能。 
标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告 。 
光学2 0X 影像放大功能,更能对位。  
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