物质经X 射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定

状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X 射线镀层厚度测

量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

照射X 射线 镀层的荧光X 射线

 

X-RAY镀层测厚仪主要应用方面：

由于可测量的元素范围从铝至铀，X射线的应用范围从工业应用伸展到科学应用。它可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等，在工业方面，广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。

 

X-RAY镀层测厚仪采用X射线荧光的工作原理是，X 射线管产生初级射线照射在受检物质时，会激发物质放射X－射线萤光辐射，特定的元素有特定的辐射信号，接收器便会记录这些能量光谱。不需要先对样品进行处理便能测量，样品可直接放入测量室进行测量。

 

X-RAY镀层测厚仪主要特点 

　　搭载样品尺寸的兼容性，能够通过一台仪器测量，从电子部件、电路板到机械部件等高度较高的样品。

　　具有焦点距离切换功能，适用于有凹凸的机械部件与电路板的底部进行测量。

　　彩色CCD摄像头，通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或破坏被测物。 

　　卤素灯照明。