X射线镀层测厚仪已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。X射线是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。适用于五金、电镀、精品首饰、电子、手表、电路板等镀层测量,如镀金、银、镍等微小部位的高精度测量。

 

          随着科技的进步，尤其是近几年微机技术的引进，X射线镀层测厚仪的采用正朝着微型化、智能化、多功能、高精度、实用化方向发展。测量分辨率达0.1微米，精密度可达1%，并有较大提高。应用范围广，操作方便，价格低廉。是工业和科研中应用的测厚仪。     

 

         X射线镀层测厚仪是将X射线照射在样品上的。强度的衰减将主要是由于材料对样品的吸收，以及从样品中反射的第二X射线的强度。测量了涂层等金属膜的厚度。因为有样品和X射线辐照对样品无接触只有45-75w，所以不会造成样品损伤。同时，测量也可以在10到几分钟内完成。

 

        X射线镀层测厚仪的特征:  

       1、可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。  

       2、CCD摄像机可以观察和选择小面积测量涂层的厚度，避免直接接触或破坏被测物体。 

       3、拥有镀层厚度测量和成分分析等250多个标准样品。